[发明专利]一种贴膜的缺陷检测方法、装置、设备及存储介质在审
| 申请号： | 202211021296.6 | 申请日： | 2022-08-24 |
| 公开（公告）号： | CN115272291A | 公开（公告）日： | 2022-11-01 |
| 发明（设计）人： | 孙高磊;凌桂林;吴丰礼 | 申请（专利权）人： | 广东拓斯达科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/13;G06T7/70;G06T7/187;G06T5/20 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 严慧 |
| 地址： | 523000 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明公开了一种贴膜的缺陷检测方法、装置、设备及存储介质，该方法包括：对被测产品的原始贴膜图像执行滤波操作，得到滤波贴膜图像，并确定所述原始贴膜图像与所述滤波贴膜图像对应的差值贴膜图像；将所述差值贴膜图像中像素值满足预设像素值范围的差值像素点作为缺陷像素点；基于所述原始贴膜图像以及各所述缺陷像素点，确定至少一个目标缺陷区域图像；基于各所述目标缺陷区域图像，确定所述被测产品的缺陷检测结果。本发明实施例解决了现有的缺陷检测方法耗时耗力的问题，提高了缺陷检测的检测效率以及提高了缺陷产品的检出质量，降低了生产成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 缺陷 检测 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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