[发明专利]基于半导体工艺的混合成像芯片及其制备方法有效

专利信息
申请号: 202210694432.1 申请日: 2022-06-20
公开(公告)号: CN114784033B 公开(公告)日: 2022-09-16
发明(设计)人: 段程鹏;王鹏;刘伟;韩雷 申请(专利权)人: 西安中科立德红外科技有限公司
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146;G01J5/20;G01J5/48
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 王蕊;黄健
地址: 710117 陕西省西安市高*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 一种基于半导体工艺的混合成像芯片及其制备方法。该基于半导体工艺的混合成像芯片的衬底具有可见光吸收区,可见光吸收区内的衬底中设置有P型区和第一N型区,电路处理模块集成于衬底上,P型区和第一N型区均与电路处理模块电性导通;感光微桥结构位于衬底远离可见光吸收区的一侧,感光微桥结构与所衬底间隔布置,导电支撑柱设置于衬底和感光微桥结构之间,感光微桥结构包括相互绝缘的第一电极和第二电极,第一电极和第二电极均通过导电支撑柱与电路处理模块电性导通;感光微桥结构的入射面具有光增强区,光增强区内的感光微桥结构的表面凹凸不平。本申请能够提高检测光在感光微桥结构的入射面的吸收效率,从而提高混合成像芯片的检测灵敏度。
搜索关键词: 基于 半导体 工艺 混合 成像 芯片 及其 制备 方法
【主权项】:
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