[发明专利]半导体装置和错误检测方法在审
| 申请号： | 202210632427.8 | 申请日： | 2022-06-06 |
| 公开（公告）号： | CN115543681A | 公开（公告）日： | 2022-12-30 |
| 发明（设计）人： | 石桥隆;桥本浩志 | 申请（专利权）人： | 瑞萨电子株式会社 |
| 主分类号： | G06F11/08 | 分类号： | G06F11/08;G06F12/06 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 董莘 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种半导体装置，包括：校验子生成电路，被配置为基于数据以及与所述数据相对应的错误校正码来生成校验子码；错误确定电路，被配置为基于所述校验子码来检测所述数据中的1位错误；以及多位错误检测电路，被配置为通过使用被检测为具有1位错误的所述数据的错误地址和被检测为具有1位错误的所述数据的错误校验子码，来确定被检测为具有1位错误的所述数据是否包括多位错误。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 装置 错误 检测 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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