[发明专利]双测量截面的机床主轴回转误差测量、标定结构及方法在审

专利信息
申请号: 202210550324.7 申请日: 2022-05-20
公开(公告)号: CN114952415A 公开(公告)日: 2022-08-30
发明(设计)人: 郭俊杰;王治忠;杜红枫;刘飞;刘弹 申请(专利权)人: 西安交通大学
主分类号: B23Q17/00 分类号: B23Q17/00
代理公司: 西安智大知识产权代理事务所 61215 代理人: 贺建斌
地址: 710049 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 一种双测量截面的机床主轴回转误差测量、标定结构及方法,采用双测量截面结构,以及四支位移测量传感器实现主轴回转误差的动态测量;一个测量截面为基准截面,另一个为测量截面;每个测量截面通过一个支架上固定空间成正交分布的两个位移测量传感器测量,实现单一测量截面的轴心轨迹及轮廓动态偏移量的测量,两组信号的差值为主轴的动态回转精度;利用了两个测量截面的相对测量,动态获取了主轴的回转误差,并有效抑制随机误差的产生,可实时监测机床主轴系统运行精度;本发明可实现机床主轴及回转体零件的回转精度动态测量及空间回转误差的标定。
搜索关键词: 测量 截面 机床 主轴 回转 误差 标定 结构 方法
【主权项】:
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