[发明专利]一种用于芯片元器件的高精度自动检测和封装一体化装置在审

专利信息
申请号: 202210549186.0 申请日: 2022-05-20
公开(公告)号: CN114975152A 公开(公告)日: 2022-08-30
发明(设计)人: 罗小明;聂翔;崔友元 申请(专利权)人: 深圳市优图科技有限公司
主分类号: H01L21/66 分类号: H01L21/66;H01L21/67
代理公司: 深圳市中科云策知识产权代理有限公司 44862 代理人: 章明美
地址: 518000 广东省深圳市宝安区*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种用于芯片元器件的高精度自动检测和封装一体化装置,属于芯片元器件加工领域。本发明的一种用于芯片元器件的高精度自动检测和封装一体化装置,两个所述芯片元件夹具之间设置有待加工芯片,所述封装板位于上支撑架的下端,两组所述芯片检测条分别位于两个移动检测板的一侧,且两组所述芯片检测条的中间均设置有检测通道。本发明解决了现有技术中,芯片检测无法自动化进行检测和封装,影响工作效率,且检测效果一般的问题,可通过芯片检测条进行高精度检测,芯片检测条内部的电控组件可调节检测方式,提高检测效果,有利于适应不同的检测工作,不需要人工不断调节待加工芯片的位置,自动化检测和封装,减少了工作强度,适应性强。
搜索关键词: 一种 用于 芯片 元器件 高精度 自动检测 封装 一体化 装置
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市优图科技有限公司,未经深圳市优图科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202210549186.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top