[发明专利]一种半导体刻蚀腔耐等离子体涂层制备方法有效

专利信息
申请号: 202210267971.7 申请日: 2022-03-18
公开(公告)号: CN114645275B 公开(公告)日: 2022-12-27
发明(设计)人: 吴昊;李宗泰;杨佐东 申请(专利权)人: 重庆臻宝实业有限公司
主分类号: C23C28/04 分类号: C23C28/04;C23C4/01;C23C4/02;C23C4/11;C23C4/134;C25D11/02
代理公司: 重庆乐泰知识产权代理事务所(普通合伙) 50221 代理人: 郭泽培
地址: 401326 重庆市九*** 国省代码: 重庆;50
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摘要: 发明公开了一种半导体刻蚀腔耐等离子体涂层制备方法,属于半导体真空零部件技术领域,包括以下步骤,首先对产品进行阳极氧化处理;对产品除内壁以外的所有部位进行遮蔽保护;对产品进行人工喷砂;通过采用均匀熔射喷涂设备对产品表面进行等离子熔射喷涂,形成均匀的Y2O3涂层;去除产品的遮蔽部位,人工修饰突出尖锐部位,然后在恒温室内对产品进行干燥;对涂层表面进行封孔;对涂层表面进行清洁,去除易发生Partice的涂层;干燥产品上的水分后无尘室进行包装。本发明方法通过在产品上均匀喷涂上一层均匀的抗等离子体的Y2O3涂层,可以均匀的吸附反应生成的聚合物,延长部件的使用时间,降低生产成本,减少Particle,使得晶圆品质得到了很好的改善。
搜索关键词: 一种 半导体 刻蚀 等离子体 涂层 制备 方法
【主权项】:
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