[发明专利]低温磊晶成长的化学气相沉积仪在审

专利信息
申请号: 202210261248.8 申请日: 2022-03-17
公开(公告)号: CN115821231A 公开(公告)日: 2023-03-21
发明(设计)人: 何焱腾;陈乃榕 申请(专利权)人: 瑞砻科技股份有限公司
主分类号: C23C16/50 分类号: C23C16/50;C23C16/02;C23C16/30;C23C16/448
代理公司: 上海中优律师事务所 31284 代理人: 潘诗孟
地址: 中国台湾桃园*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 发明涉及一种低温磊晶成长的化学气相沉积仪,包括:一阳离子预裂解腔室,提供复数预裂解的阳离子;一阴离子预裂解腔室,提供复数预裂解的阴离子;一气相沉积室,具有一顶部、一底部以及一中空作用腔,该气相沉积室更形成有至少一导通上述阳离子预裂解腔室和该中空作用腔的阳离子通道、至少一导通上述阴离子预裂解腔室和该中空作用腔的阴离子通道以及驱使上述阳离子和上述阴离子朝向上述中空作用腔顶部方向移动的驱动装置;以及至少一设置于上述气相沉积室接近上述顶部的载台,供至少一片三维半导体晶材基板朝向上述中空作用腔设置于前述载台。
搜索关键词: 低温 成长 化学 沉积
【主权项】:
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