[发明专利]一种碳化硅MCT器件及其制造方法与应用在审

专利信息
申请号: 202210230641.0 申请日: 2022-03-10
公开(公告)号: CN114744032A 公开(公告)日: 2022-07-12
发明(设计)人: 温正欣;和巍巍;汪之涵;张学强;喻双柏 申请(专利权)人: 深圳基本半导体有限公司
主分类号: H01L29/423 分类号: H01L29/423;H01L29/745;H01L29/749;H01L21/28;H01L21/332
代理公司: 深圳新创友知识产权代理有限公司 44223 代理人: 江耀纯
地址: 518000 广东省深圳市坪山区坑梓街道办*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 一种碳化硅MCT器件,其从下到上依次包括n型碳化硅衬底(1)、n型碳化硅缓冲层(2)、p型漂移层(3)、n型基区(4);n型基区上部从左到右依次设有第一p型沟道区(5)、p型阳极区(7)和第二p型沟道区(5’),第一p型沟道区(5)和第二p型沟道区(5’)分别包裹有第一n型阳极区(6)和第二n型阳极区(6’);n型基区(4)顶部一侧设有沟槽,沟槽侧壁覆盖有沟槽栅氧化层(8),沟槽内部填充第一栅电极(9),形成沟槽栅结构;n型基区(4)顶部另一侧覆盖有平面栅氧化层(8’),在平面栅氧化层(8’)上部填充第二栅电极(9),形成平面栅结构。本发明的器件导通性能好,适合作为高压大功率电力电子领域的基础元器件。
搜索关键词: 一种 碳化硅 mct 器件 及其 制造 方法 应用
【主权项】:
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