[发明专利]一种用于测量介电常数的双边缘检测谐振电路在审

专利信息
申请号: 202210202648.1 申请日: 2022-03-03
公开(公告)号: CN114705918A 公开(公告)日: 2022-07-05
发明(设计)人: 钱黎明;刘通;黄恒笑;赵静;张雅男;曹兆楼;李金花 申请(专利权)人: 南京信息工程大学
主分类号: G01R27/26 分类号: G01R27/26
代理公司: 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 代理人: 陈国强
地址: 210000 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明涉及一种用于测量介电常数的双边缘检测谐振电路,包括电阻、电容、电感、交流电源、介电物质、数字万用表以及样品容器,所述介电物质放置在所述样品容器里,所述电容、电感、电阻串联连接,所述数字万用表接在电容两端,用于交流电压档测量电容两端交流信号的幅值,其中,所述谐振电路共两个,两个谐振电路的电容均处于样品容器中,所述样品容器可以加入介电物质、不加入介电物质或者加入不同介电常数的介质,所述电容值随不同介质的介电常数呈线性变化。通过对双边缘的检测,不仅可以一次性测出中心频率偏移的大小,同时也能测出偏移的方向,再根据谐振频率的计算公式,便可以得出加入样品后的电容值,从而间接计算出样品的介电常数。
搜索关键词: 一种 用于 测量 介电常数 双边 检测 谐振 电路
【主权项】:
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