[发明专利]一种可检测击穿电压的双极型晶体管制造装置有效
| 申请号： | 202210175725.9 | 申请日： | 2022-02-25 |
| 公开（公告）号： | CN114609499B | 公开（公告）日： | 2023-10-24 |
| 发明（设计）人： | 程万坡;张兴杰;王荣元 | 申请（专利权）人： | 江苏韦达半导体有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;H01L21/66;H01L21/68 |
| 代理公司： | 北京康达联禾知识产权代理事务所(普通合伙) 11461 | 代理人： | 何浩 |
| 地址： | 225000 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明属于电子元件生产领域，尤其是一种可检测击穿电压的双极型晶体管制造装置，针对现有的双极型晶体管在生产过程中，没有设置相关的击穿检测装置，还需人工进行检测，比较浪费时间，使得生产效率低下的问题，现提出如下方案，其包括底座，所述底座的顶部固定安装有安装架，且安装架的顶部固定安装有放置罩，所述放置罩内设有晶体管，所述安装架的顶部内壁上对称固定安装有插接组件，且插接组件的数量为两个，本发明通过对晶体管进行卡装定位，之后可对晶体管进行正向和反向电流测试，以此能够对晶体管进行性能测试和逆向击穿测试，因此相较于传统的检测方式，本技术方案具有良好的方便性，因此能够提高晶体管的生产效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 检测 击穿 电压 双极型 晶体管 制造 装置 | ||
【主权项】：
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