[发明专利]一种可检测击穿电压的双极型晶体管制造装置

说明书

本发明属于电子元件生产领域，尤其是一种可检测击穿电压的双极型晶体管制造装置，针对现有的双极型晶体管在生产过程中，没有设置相关的击穿检测装置，还需人工进行检测，比较浪费时间，使得生产效率低下的问题，现提出如下方案，其包括底座，所述底座的顶部固定安装有安装架，且安装架的顶部固定安装有放置罩，所述放置罩内设有晶体管，所述安装架的顶部内壁上对称固定安装有插接组件，且插接组件的数量为两个，本发明通过对晶体管进行卡装定位，之后可对晶体管进行正向和反向电流测试，以此能够对晶体管进行性能测试和逆向击穿测试，因此相较于传统的检测方式，本技术方案具有良好的方便性，因此能够提高晶体管的生产效率。

技术领域

本发明涉及电子元件生产技术领域，尤其涉及一种可检测击穿电压的双极型晶体管制造装置。

背景技术

由两个背靠背PN结构成的以获得电压、电流或信号增益的晶体三极管。起源于1948年发明的点接触晶体三极管，50年代初发展成结型三极管即现在所称的双极型晶体管。双极型晶体管有两种基本结构：PNP型和NPN型。在这3层半导体中，中间一层称基区，外侧两层分别称发射区和集电区。当基区注入少量电流时，在发射区和集电区之间就会形成较大的电流，这就是晶体管的放大效应。

目前在双极型晶体管在生产过程中，没有设置相关的击穿检测装置，还需人工进行检测，比较浪费时间，使得生产效率低下，所以我们提出一种可检测击穿电压的双极型晶体管制造装置，用于解决上述提出的问题。

发明内容

基于背景技术存在双极型晶体管在生产过程中，没有设置相关的击穿检测装置，还需人工进行检测，比较浪费时间，使得生产效率低下的技术问题，本发明提出了一种可检测击穿电压的双极型晶体管制造装置。

本发明提出的一种可检测击穿电压的双极型晶体管制造装置，包括底座，所述底座的顶部固定安装有安装架，且安装架的顶部固定安装有放置罩，所述放置罩内设有晶体管，所述安装架的顶部内壁上对称固定安装有插接组件，且插接组件的数量为两个，所述晶体管的两个阳极引脚分别与两个插接组件电性连接，所述放置罩上连接有卡装组件，且卡装组件与晶体管相卡装，所述卡装组件与安装架相连接，所述底座的顶部固定安装有固定箱，且固定箱内连接有传动组件，所述传动组件的顶部延伸至安装架内并连接有接电组件，所述接电组件分别与两个插接组件相配合，所述底座的顶部固定安装有位于固定箱右侧的电动推杆，且传动组件的右侧延伸至安装架内并与电动推杆的输出轴相连接。

优选的，所述插接组件包括接电罩、传电杆和金属杆，所述接电罩固定安装在安装架的顶部内壁上，设置接电罩能够对传电杆进行支撑，所述传电杆贯穿接电罩的底部内壁并与接电罩的底部内壁固定连接，所述晶体管的阳极引脚延伸至接电罩内并与传电杆电性插接，设置传电杆能够方便对晶体管进行供电，所述金属杆贯穿传电杆并与传电杆滑动连接，且金属杆位于安装架内，所述金属杆与接电组件活动电性连接，设置插接组件能够在将晶体管放入放置罩内后，能够实现对晶体管进行接电，以此能够方便对晶体管进行供电。

优选的，所述金属杆上套设有拉伸弹簧，且拉伸弹簧的两端分别与金属杆和传电杆固定连接，设置拉伸弹簧能够使得金属杆与接杆紧密的接触。

优选的，所述卡装组件包括盖板、检测构件、两个连接构件、U型杆和定位构件，两个连接构件分别与放置罩的左侧和右侧相连接，设置连接构件能够方便对盖板进行传动，且盖板分别与两个连接构件相连接，所述检测构件安装在盖板的顶部，且检测构件分别与晶体管的两个阴极引脚电性连接，所述U型杆转动连接在安装架的顶部，且两个连接构件均与U型杆相连接，设置U型杆能够方便对两个连接构件进行传动，所述定位构件分别与U型杆和安装架的顶部相连接，设置卡装组件能够在将晶体管放入放置罩内后，可实现对晶体管进行卡装定位。