[发明专利]一种基于氮化镓的CMOS场效应晶体管及制备方法有效

专利信息
申请号: 202210089420.6 申请日: 2022-01-25
公开(公告)号: CN114628523B 公开(公告)日: 2023-03-21
发明(设计)人: 刘新科;陈增发;黄双武;宋利军;高麟飞;林峰;吴钧烨;黎晓华;贺威 申请(专利权)人: 深圳大学
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L21/336;H01L29/207
代理公司: 深圳市恒申知识产权事务所(普通合伙) 44312 代理人: 廖厚琪
地址: 518060 广东省深*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供了一种基于氮化镓的CMOS场效应晶体管及制备方法,CMOS场效应晶体管包括:衬底、绝缘导热层和金属栅极,绝缘导热层和金属栅极设置于抛光面上,且绝缘导热层位于金属栅极的两侧;在金属栅极内生长有形成第一沟道的nmos纳米片和生长有形成第二沟道的pmos纳米片,nmos纳米片和pmos纳米片均为氮化镓材料,nmos纳米片和pmos纳米片的两侧均延伸至绝缘导热层内;且在nmos纳米片与金属栅极之间,以及pmos纳米片与金属栅极之间生长有栅氧化层。本发明提供的基于氮化镓的CMOS场效应晶体管,解决沟道存在高热量的问题,增强栅极对沟道的控制能力,漏电流更小,静态功耗更低,散热性更强,使得器件能保持长时间的正常工作。
搜索关键词: 一种 基于 氮化 cmos 场效应 晶体管 制备 方法
【主权项】:
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