[发明专利]一种基于X射线探伤图像的缺陷分析装置有效

专利信息
申请号: 202210003482.0 申请日: 2022-01-05
公开(公告)号: CN114018960B 公开(公告)日: 2022-10-25
发明(设计)人: 王云岗;董禄友 申请(专利权)人: 山东胜宁电器有限公司
主分类号: G01N23/04 分类号: G01N23/04;G01N23/18
代理公司: 山东舜天律师事务所 37226 代理人: 李新海
地址: 253400 山东省德州市宁津*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明涉及无损检测技术领域,具体涉及一种基于X射线探伤图像的缺陷分析装置。其包括设置在检测台中的聚焦镜和透射光线接收器,该检测台水平固定在第一旋转电机的转轴上,所述第一旋转电机竖向固定在其下方的升降平台上,所述升降平台固定在升降机构上。X射线枪固定在检测台的上方,该X射线枪斜向朝向检测台上表面。第一旋转电机、升降机构、X射线枪均与控制柜连接。反射光线接收器设置在检测台的上方,且位于X射线枪对侧。透射光线接收器和反射光线接收器均与成像及分析系统连接。本发明的分析装置能够对同一测量位置进行透射和反射光线成像,有效提高缺陷图像的分辨率,而且该分析装置能够自动完成对缺陷类型的归类,有效提高了检测效率。
搜索关键词: 一种 基于 射线 探伤 图像 缺陷 分析 装置
【主权项】:
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