[发明专利]三维存储器器件及其形成方法在审

专利信息
申请号: 202180000914.6 申请日: 2021-03-22
公开(公告)号: CN113892179A 公开(公告)日: 2022-01-04
发明(设计)人: 张坤;周文犀 申请(专利权)人: 长江存储科技有限责任公司
主分类号: H01L27/11582 分类号: H01L27/11582;H01L27/1157
代理公司: 北京永新同创知识产权代理有限公司 11376 代理人: 林锦辉
地址: 430074 湖北省*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 公开了三维(3D)存储器器件及其形成方法。在某些方面中,3D存储器器件包括:堆叠层结构,堆叠层结构包括交替的导电层和电介质层;沟道结构,沟道结构延伸穿过堆叠层结构;以及掺杂半导体层,掺杂半导体层包括板和从板延伸到沟道结构中的插塞。沟道结构包括存储器膜和半导体沟道。半导体沟道包括掺杂部分,并且半导体沟道的掺杂部分的部分在第一方向上延伸超过堆叠层结构。半导体沟道的掺杂部分外接掺杂半导体层的插塞。
搜索关键词: 三维 存储器 器件 及其 形成 方法
【主权项】:
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