[实用新型]一种晶圆表面质量检测装置有效

专利信息
申请号: 202121032345.7 申请日: 2021-05-14
公开(公告)号: CN214542145U 公开(公告)日: 2021-10-29
发明(设计)人: 欧庆荣 申请(专利权)人: 漳州职业技术学院
主分类号: H01L21/67 分类号: H01L21/67;H01L21/66
代理公司: 济南鼎信专利商标代理事务所(普通合伙) 37245 代理人: 梁国海
地址: 363000 *** 国省代码: 福建;35
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摘要: 实用新型公开了一种晶圆表面质量检测装置,包括检测设备主体,检测设备主体的最下侧位置处设置有底座,底座的上方内侧位置处设置有滑轨,滑轨的上侧位置处设置有平台主体,平台主体的左侧位置处设置有横向移动装置,横向移动装置的左侧位置处设置有移动装置把柄,平台主体的左侧位置处设置有平台把柄,通过平台主体的移动带动晶圆在光学检测镜头下移动,可以检测圆晶表面的粗糙程度,锁紧装置可以在底座的凹槽内进行移动,当锁紧装置贴紧平台主体时,可以将平台主体固定住,便于检测,当需要将晶圆放置在真空吸附台上时,可以先将平台主体从滑轨内移出,将晶圆放置在真空吸附台上时再将其恢复原位,避免晶圆碰触到光学检测镜头受到损坏。
搜索关键词: 一种 表面 质量 检测 装置
【主权项】:
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