[发明专利]扇出式封装方法及封装结构在审
| 申请号： | 202111496037.4 | 申请日： | 2021-12-08 |
| 公开（公告）号： | CN114171412A | 公开（公告）日： | 2022-03-11 |
| 发明（设计）人： | 杜茂华 | 申请（专利权）人： | 通富微电子股份有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/50 | 分类号： | H01L21/50;H01L21/56;H01L21/60;H01L21/603;H01L23/31;H01L23/528;H01L23/532 |
| 代理公司： | 北京中知法苑知识产权代理有限公司 11226 | 代理人： | 李明;赵吉阳 |
| 地址： | 226004 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种扇出式封装方法及封装结构，该方法包括：分别提供晶圆载盘和面板载片；将多组第一芯片的第一表面以第一阵列的形式通过混合键合结构固定在晶圆载盘的表面，在多组第一芯片的第二表面形成第一塑封层；将多组第一芯片与晶圆载盘分离，将多组第一芯片进行切割，并以第二阵列的形式将多组第一芯片的第一表面固定在面板载片的表面；在多组第一芯片背离面板载片的一侧形成第二塑封层；将多组第一芯片与面板载片分离，并在混合键合结构上形成互连布线层。本发明的封装方法既可以大大提高互连密度，减小互连间距，又可以提供同等互连密度条件下的更低成本，还可以提供更高的互联密度，满足高性能器件需求。 | ||
| 搜索关键词： | 扇出式 封装 方法 结构 | ||
【主权项】：
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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