[发明专利]具有高阈值电压的SiC MOSFET及制造方法有效
申请号: | 202111492929.7 | 申请日: | 2021-12-08 |
公开(公告)号: | CN114420758B | 公开(公告)日: | 2023-02-03 |
发明(设计)人: | 王曦;解勇涛;李佳思;孙佳威;许建宁;夏浩玮 | 申请(专利权)人: | 西安理工大学 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L29/06;H01L21/336 |
代理公司: | 西安弘理专利事务所 61214 | 代理人: | 王奇 |
地址: | 710048 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种具有高阈值电压的SiC MOSFET,在衬底上表面依次外延有耐压外延层、电流扩展外延层;电流扩展外延层上表面间隔嵌有多个第一p阱区,每个第一p阱区中包围有一个第二p阱区;每个第三p阱区对应遮蔽一个第二p阱区下表面;每个第二p阱区上表面嵌有一个n+源区;相邻第一p阱区之间的电流扩展外延层上表面,依次间隔嵌有p+屏蔽区和一个p+发射区;还包括栅氧化层、多晶硅栅及钝化介质层;另外还包括源极/漏极欧姆接触金属、隔离介质层、源极/栅极/漏极PAD金属。本发明还公开了上述SiC MOSFET的制造方法。本发明SiC MOSFET,阈值电压更高,导通特性与阻断特性良好。 | ||
搜索关键词: | 具有 阈值 电压 sic mosfet 制造 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安理工大学,未经西安理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202111492929.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种深紫外LED及其制备方法
- 下一篇:光声/超声双模内窥成像装置及方法
- 同类专利
- 专利分类