[发明专利]一种IC芯片测试设备的冷头备件管理系统及管理方法在审
| 申请号： | 202111420902.7 | 申请日： | 2021-11-26 |
| 公开（公告）号： | CN114264848A | 公开（公告）日： | 2022-04-01 |
| 发明（设计）人： | 许悦;郭宏伟;朱军;曾昭孔 | 申请（专利权）人： | 苏州通富超威半导体有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04 |
| 代理公司： | 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 | 代理人： | 吴芳 |
| 地址： | 215000 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种IC芯片测试设备的冷头备件管理系统及管理方法，用于响应测试设备上冷头部件的更换提示，对冷头的备件更换和部件维修作出信息化管理，每个冷头部件预设有唯一身份标识信息，管理系统包括终端设备和服务器数据库，终端设备包括拍照装置、PC、PC端的库存管理‑视觉检测软件；终端设备部署于不同站点，用于每一站点的库存记录更新和外观检查，其中库存数据库存放每个备件的编号、出/入库状态、检查状态信息。本发明把库存管理和外观检测结合进行，执行效率更高；自动读取备件编号，自动调取检测参数，可实现不同种类备件的视觉检测，且相比人工检测可靠性更高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 ic 芯片 测试 设备 备件 管理 系统 方法 | ||
【主权项】：
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