[发明专利]一种IC芯片测试设备的冷头备件管理系统及管理方法在审

专利信息
申请号: 202111420902.7 申请日: 2021-11-26
公开(公告)号: CN114264848A 公开(公告)日: 2022-04-01
发明(设计)人: 许悦;郭宏伟;朱军;曾昭孔 申请(专利权)人: 苏州通富超威半导体有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04
代理公司: 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 代理人: 吴芳
地址: 215000 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 ic 芯片 测试 设备 备件 管理 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种IC芯片测试设备的冷头备件管理系统,其特征在于,用于响应测试设备上冷头部件的更换提示,对冷头的备件更换和部件维修作出信息化管理,每个冷头部件预设有唯一身份标识信息,所述冷头备件管理系统包括:

服务器,其配置有数据库,所述数据库用于存储每个冷头部件的唯一身份标识信息、对应的参数信息及其状态信息;

备件仓库模块,其被配置为存储不同型号的冷头备件以及对接收到的待维修的冷头部件进行送修,所述备件仓库模块设置有第一录检装置,其被配置为识别待维修的冷头部件及存储的冷头备件的唯一身份标识信息;

维修车间模块,其被配置为对所述备件仓库模块送修的冷头部件进行维修以及将完成维修的冷头部件返回至所述备件仓库模块以作为冷头备件,所述维修车间模块设置有第二录检装置,其被配置为识别完成维修的冷头部件的唯一身份标识信息;

计算机处理模块,其被配置为与所述第一录检装置、第二录检装置以及服务器电连接,以将所述第一录检装置和第二录检装置的识别结果发送至所述服务器,进而所述服务器对数据库中对应的冷头部件的状态信息进行更新。

2.根据权利要求1所述的IC芯片测试设备的冷头备件管理系统,其特征在于,所述第一录检装置还配置有视觉检测单元,其被配置为对待维修的冷头部件及存储的冷头备件进行外观缺陷检测;

所述第二录检装置还配置有视觉检测单元,其被配置为对完成维修的冷头部件进行外观缺陷检测;

所述计算机处理模块还被配置为将所述第一录检装置和第二录检装置的缺陷检测结果发送至所述服务器。

3.根据权利要求2所述的IC芯片测试设备的冷头备件管理系统,其特征在于,还包括第一提示装置,其与所述计算机处理模块电连接,若所述计算机处理模块根据所述第一录检装置的识别结果判断所述冷头的备件更换发生异常状况,则驱动所述第一提示装置以进行告警。

4.根据权利要求3所述的IC芯片测试设备的冷头备件管理系统,其特征在于,所述第一录检装置的识别结果按序两两配对,所述计算机处理模块根据所述第一录检装置所识别的唯一身份标识信息,向所述服务器查询其对应的参数信息;

若配对的两个识别结果所对应的参数信息不一致,则所述计算机处理模块驱动所述第一提示装置以进行告警。

5.根据权利要求4所述的IC芯片测试设备的冷头备件管理系统,其特征在于,所述第一录检装置的视觉检测单元的缺陷检测结果按序两两配对,若配对的两个缺陷检测结果中对应冷头备件的缺陷检测结果为无缺陷,则将对应的待维修的冷头部件的状态信息更新为待维修;

否则所述计算机处理模块驱动所述第一提示装置以进行告警。

6.根据权利要求2所述的IC芯片测试设备的冷头备件管理系统,其特征在于,还包括第二提示装置,其与所述计算机处理模块电连接,若所述计算机处理模块根据所述第二录检装置的识别结果判断所述冷头的部件维修发生异常状况,则驱动所述第二提示装置以进行告警。

7.根据权利要求6所述的IC芯片测试设备的冷头备件管理系统,其特征在于,若所述第二录检装置的视觉检测单元的缺陷检测结果为无缺陷,则所述服务器将对应的冷头部件的状态信息由维修状态更新为备件存储状态;

否则所述计算机处理模块驱动所述第二提示装置以进行告警。

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