[发明专利]一种IC芯片测试设备的冷头备件管理系统及管理方法

说明书

本发明公开了一种IC芯片测试设备的冷头备件管理系统及管理方法，用于响应测试设备上冷头部件的更换提示，对冷头的备件更换和部件维修作出信息化管理，每个冷头部件预设有唯一身份标识信息，管理系统包括终端设备和服务器数据库，终端设备包括拍照装置、PC、PC端的库存管理‑视觉检测软件；终端设备部署于不同站点，用于每一站点的库存记录更新和外观检查，其中库存数据库存放每个备件的编号、出/入库状态、检查状态信息。本发明把库存管理和外观检测结合进行，执行效率更高；自动读取备件编号，自动调取检测参数，可实现不同种类备件的视觉检测，且相比人工检测可靠性更高。

技术领域

本发明涉及智能产线领域，尤其涉及一种IC芯片测试设备的冷头备件管理系统及管理方法。

背景技术

在发明提供的IC芯片测试设备的冷头备件管理系统的目的在于对冷头的备件更换和部件维修作出信息化管理，冷头是IC芯片测试设备上的部件，在对IC芯片作系统级别测试(SystemLevelTest，简称SLT)时，即模拟系统环境的前提下对芯片的性能作出测试，其中需要对系统环境进行降温，冷头正是起到降温的作用。

现有的一台测试设备上，通常设有多个(比如12个)冷头，可以同时对多个芯片进行SLT测试，在具备一定规模的情况下，一条产线上可能存在500台的测试设备，以每个测试设备上具有12个冷头为例，则正常会有6000个冷头同时处于工作状态。

尤其是，冷头需要定期更换维修，冷头经过专业的维修大概率又可以装回到测试设备上进行正常工作，为了尽量降低更换冷头给测试效率带来的不良影响，需要预储备一些冷头以作备用；并且冷头可能具有不同的型号，即对应不同的参数信息，在如此多的冷头尤其是型号不统一的情况下，其库存管理、维修管理需要投入大量的人力资源，具体有两项任务，第一项任务是库存管理，现有技术中采用的方法通常是扫描二维码、RFID或者条形码，或者手动输入编号，以录入库存管理系统进行管理；第二项任务是备件出入库时的外观检查，通常依靠库存管理人员进行人工检查。

在目前的备件管理中，以上两项任务至少存在以下问题：

库存管理系统和外观检查缺乏联系，库存管理系统中缺少备件的具体状态信息；

外观检查由人工完成，难以标准化管控，可靠性低。

发明内容

本发明的目的是提供一种IC芯片测试设备的冷头备件管理系统及管理方法，将冷头的库存管理和外观检查联动，提高可靠性。

为达到上述目的，本发明采用的技术方案如下：

一种IC芯片测试设备的冷头备件管理系统，用于响应测试设备上冷头部件的更换提示，对冷头的备件更换和部件维修作出信息化管理，每个冷头部件预设有唯一身份标识信息，所述冷头备件管理系统包括：

服务器，其配置有数据库，所述数据库用于存储每个冷头部件的唯一身份标识信息、对应的参数信息及其状态信息；

备件仓库模块，其被配置为存储不同型号的冷头备件以及对接收到的待维修的冷头部件进行送修，所述备件仓库模块设置有第一录检装置，其被配置为识别待维修的冷头部件及存储的冷头备件的唯一身份标识信息；

维修车间模块，其被配置为对所述备件仓库模块送修的冷头部件进行维修以及将完成维修的冷头部件返回至所述备件仓库模块以作为冷头备件，所述维修车间模块设置有第二录检装置，其被配置为识别完成维修的冷头部件的唯一身份标识信息；

计算机处理模块，其被配置为与所述第一录检装置、第二录检装置以及服务器电连接，以将所述第一录检装置和第二录检装置的识别结果发送至所述服务器，进而所述服务器对数据库中对应的冷头部件的状态信息进行更新。

进一步地，所述第一录检装置还配置有视觉检测单元，其被配置为对待维修的冷头部件及存储的冷头备件进行外观缺陷检测；