[发明专利]一种GaInP/GaInAs/Ge太阳电池一次湿法台阶刻蚀工艺在审
| 申请号: | 202111271441.1 | 申请日: | 2021-10-29 |
| 公开(公告)号: | CN113889553A | 公开(公告)日: | 2022-01-04 |
| 发明(设计)人: | 许军;铁剑锐;韩志刚;赵拓 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第十八研究所;天津恒电空间电源有限公司 |
| 主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L31/0725;H01L31/0735 |
| 代理公司: | 天津市鼎和专利商标代理有限公司 12101 | 代理人: | 蒙建军 |
| 地址: | 300384 天津市滨海*** | 国省代码: | 天津;12 |
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| 摘要: | 本发明公开了一种GaInP/GaInAs/Ge太阳电池一次湿法台阶刻蚀工艺,属于太阳电池技术领域,包括:S1、对晶圆进行预烘;S2、在晶圆表面涂覆用于图形转移的光刻胶;S3、对晶圆进行前烘处理;S4、对晶圆进行曝光,将掩膜版上的台阶图形转移至光刻胶胶膜上;S5、将胶膜上潜在的图形通过显影技术制备出来;S6、将所述晶圆在高温下坚膜;S7、将所述晶圆在一次湿法刻蚀液中进行ⅢⅤ族有源层刻蚀,形成台阶结构;S8、所述晶圆通过去胶清洗工艺完成一次湿法台阶刻蚀工艺全过程。本发明辅以光刻、显影、刻蚀和清洗工艺的简单、高效、低成本制备台阶工艺技术。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 gainp gainas ge 太阳电池 一次 湿法 台阶 刻蚀 工艺 | ||
【主权项】:
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
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H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的





