[发明专利]高性能双栅LTPO面板结构及制备工艺在审

专利信息
申请号: 202111173093.4 申请日: 2021-10-08
公开(公告)号: CN113793857A 公开(公告)日: 2021-12-14
发明(设计)人: 陈宇怀;黄志杰;陈伟 申请(专利权)人: 福建华佳彩有限公司
主分类号: H01L27/12 分类号: H01L27/12;H01L29/49;H01L29/786;H01L21/77
代理公司: 福州君诚知识产权代理有限公司 35211 代理人: 戴雨君
地址: 351100 福*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 发明公开了高性能双栅LTPO面板结构及制备工艺,基板上端设置有缓冲层,缓冲层上端设置有多晶硅层,缓冲层上端设置有第一栅极绝缘层,且第一栅极绝缘层成膜导电层上设置有第一栅极和驱动电路走线,第一栅极上端设置有第一中间绝缘层,第一中间绝缘层上端设置有Oxide有源层,Oxide有源层上端设置有第三栅极绝缘层,第三栅极绝缘层之上成膜导电层并图案化形成第二栅极、桥接区和栅极驱动线路,第二栅极之上成膜第二中间绝缘层,第二中间绝缘层上端设置有第三金属层,第三金属层外部设置有钝化层。在Oxide‑TFT中引入Dual‑Gate结构,可提高器件开态电流以及stress稳定性;IGZO/有效提高Oxide‑TFT电子迁移率;通过采用W/Mo叠层结构,可以使Mo金属电阻降低30%,实现低功耗。
搜索关键词: 性能 ltpo 面板 结构 制备 工艺
【主权项】:
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