[发明专利]纳米量级物体探测方法、系统、设备及存储介质有效
| 申请号： | 202111133386.X | 申请日： | 2021-09-27 |
| 公开（公告）号： | CN113567441B | 公开（公告）日： | 2021-12-28 |
| 发明（设计）人： | 吴征宇 | 申请（专利权）人： | 板石智能科技（武汉）有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/84 | 分类号： | G01N21/84;G01B11/24;G02B21/00 |
| 代理公司： | 武汉智嘉联合知识产权代理事务所(普通合伙) 42231 | 代理人： | 黄君军 |
| 地址： | 430000 湖北省武汉市东湖开发区关山一路1号华*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种纳米量级物体探测方法、设备及存储介质，其方法包括：获取沿光轴对待测物体进行离焦扫描得到的多幅强度图像，基于所述强度图像进行有限数值差分得到探测光的光强的一阶轴向微分；建立散射力、功与光强的一阶轴向微分之间的关系式；将探测光的光强的一阶轴向微分代入所述关系式，得到待测物体对探测光的散射力以及功，从而实现待测物体的探测。本申请具有探测效率高、灵敏度高的技术效果。 | ||
| 搜索关键词： | 纳米 量级 物体 探测 方法 系统 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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