[发明专利]发光二极管支架的缺陷检测方法及装置、设备和介质在审
| 申请号： | 202111129347.2 | 申请日： | 2021-09-26 |
| 公开（公告）号： | CN113822868A | 公开（公告）日： | 2021-12-21 |
| 发明（设计）人： | 马政;张伟 | 申请（专利权）人： | 深圳市商汤科技有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/11;G06T5/00;G06T5/20;G06K9/38;G06K9/46;G06K9/62;G06N3/04;G06N3/08 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 刘新宇 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本公开涉及一种发光二极管支架的缺陷检测方法及装置、设备和介质。所述方法包括：获取发光二极管支架的待检测图像；确定所述待检测图像中的关键区域；基于所述关键区域，确定所述待检测图像中的潜在缺陷区域；对所述潜在缺陷区域进行缺陷检测，得到所述待检测图像的缺陷检测结果。 | ||
| 搜索关键词： | 发光二极管 支架 缺陷 检测 方法 装置 设备 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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