[发明专利]具有PUC结构的3D NAND闪存器件及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202111058879.1 申请日: 2021-09-09
公开(公告)号: CN115802753A 公开(公告)日: 2023-03-14
发明(设计)人: 杨涛;夏志良;霍宗亮 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: H10B41/35 分类号: H10B41/35;H10B41/27;H10B43/35;H10B43/27;H01L21/02
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 张体南
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本公开提供了一种具有PUC结构的3D NAND闪存器件及其制备方法。其中,该3D NAND闪存器件包括衬底结构,衬底结构作为PUC结构的支撑结构,设置于PUC结构下方;其中,衬底结构通过金属诱导横向结晶工艺处理形成,以提高衬底结构的迁移率,降低电子和空穴的传输影响。因此,可以实现对具有PUC结构的3D NAND闪存器件中“衬底”的性能优化,改善衬底结构的结晶晶粒尺寸,从而增大晶粒尺寸,减小晶界数量和陷阱数量,进一步提高“衬底”迁移率,降低对电子和空穴的传输的影响。
搜索关键词: 具有 puc 结构 nand 闪存 器件 及其 制备 方法
【主权项】:
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