[发明专利]三维存储器及其制造方法在审
申请号: | 202110990859.1 | 申请日: | 2021-08-26 |
公开(公告)号: | CN113782542A | 公开(公告)日: | 2021-12-10 |
发明(设计)人: | 吴亮;颜元;刘修忠;朱文琪 | 申请(专利权)人: | 长江存储科技有限责任公司 |
主分类号: | H01L27/1157 | 分类号: | H01L27/1157;H01L27/11575;H01L27/11582 |
代理公司: | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人: | 高洁;张颖玲 |
地址: | 430074 湖北省武*** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本公开提供一种三维存储器的制造方法,包括:在衬底的第一表面形成延伸至衬底中的沟道柱;其中,沿沟道柱的径向,沟道柱包括:导电的沟道层以及围绕所述沟道层的绝缘的功能层;从衬底的第二表面去除衬底,以显露沟道柱的第一端部;其中,第二表面为衬底的第一表面的相反面;去除第一端部显露的功能层,以显露沟道层;其中,显露的沟道层被氧化形成氧化子层;形成覆盖氧化子层的第一导电层;在形成第一导电层后,对氧化子层进行第一离子注入,以破坏氧化子层的连续性;在进行第一离子注入后,对第一导电层和所述氧化子层进行热处理,以使沟道层与所述第一导电层电连接。 | ||
搜索关键词: | 三维 存储器 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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