[发明专利]条纹投影测量点云逐点加权配准方法、设备和介质有效
| 申请号： | 202110776115.X | 申请日： | 2021-07-08 |
| 公开（公告）号： | CN113409367B | 公开（公告）日： | 2023-08-18 |
| 发明（设计）人： | 张春伟;刘发恒;赵宏;鲍勍慷;张天宇 | 申请（专利权）人： | 西安交通大学;西安交通大学苏州研究院 |
| 主分类号： | G06T7/30 | 分类号： | G06T7/30;G01B11/25 |
| 代理公司： | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人： | 王艾华 |
| 地址： | 710049 *** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明公开了条纹投影测量点云逐点加权配准方法、设备和介质，该方法将条纹投影轮廓术三维测量与后续点云配准技术相结合；条纹投影轮廓术中的相位精度可由条纹背景项、条纹对比度等指标表征，且相位精度与三维测量精度正相关，从而条纹背景项、条纹对比度等指标可表征三维点云数据质量；依据条纹背景项、条纹对比度等指标建立拼接加权因子，进行逐点加权的ICP配准，通过逐点加权的约束作用，增大拼接过程中高精度点的权重，提高点云整体配准精度。 | ||
| 搜索关键词： | 条纹 投影 测量 点云逐点 加权 方法 设备 介质 | ||
【主权项】：
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