[发明专利]条纹投影测量点云逐点加权配准方法、设备和介质有效

专利信息
申请号: 202110776115.X 申请日: 2021-07-08
公开(公告)号: CN113409367B 公开(公告)日: 2023-08-18
发明(设计)人: 张春伟;刘发恒;赵宏;鲍勍慷;张天宇 申请(专利权)人: 西安交通大学;西安交通大学苏州研究院
主分类号: G06T7/30 分类号: G06T7/30;G01B11/25
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 王艾华
地址: 710049 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 条纹 投影 测量 点云逐点 加权 方法 设备 介质
【权利要求书】:

1.一种条纹投影测量点云逐点加权配准方法,其特征在于,包括以下步骤:

步骤1:基于条纹投影三维测量系统,对目标进行多视角测量,得到采样条纹图;

步骤2:基于采样得到的条纹图及三维测量系统标定信息,结合条纹图处理技术,求被测物体表面多视角三维点云;

步骤3:对采样条纹图进行代数运算,求得相位精度特征量;

步骤4:基于相位精度特征量构建与三维点云质量正相关的逐点加权因子;

步骤5:对多视角点云进行粗配准,得到精配准的位置初值;

步骤6:以位置初值与目标点云进行点云精配准,以最近点为点云匹配点,基于所构建的逐点加权因子,对点云匹配点对赋予不同权重,构建点云精配准目标函数;

步骤7:对点云精配准目标函数进行最小二乘运算,得到最优平移矩阵与最优旋转矩阵,对点云进行旋转平移位姿调整,迭代求解,实现点云逐点加权精配准;

所述步骤3中,表征相位精度的特征量为相位精度为

其中,A为条纹背景项,B为条纹对比度,f1表示相位精度表征函数;

所述步骤4中的逐点加权因子ωi的定义如下:

其中,为原点云的相位精度特征量,为目标点云的对应点的相位精度特征量,f2表示逐点加权因子表征函数;

所述步骤6中,点云精配准目标函数为:

其中,和是源点云和目标点云中的对应点,R*和t*为原点云变换到目标点云的最优旋转平移矩阵,ωi为该匹配点对的加权因子。

2.根据权利要求1所述的一种条纹投影测量点云逐点加权配准方法,其特征在于,所述步骤7中,计算点云配准最优平移矩阵t*公式为:

定义:

其中,为匹配点对的加权因子的和,和是原点云和目标点云的加权平均值。

3.根据权利要求1所述的一种条纹投影测量点云逐点加权配准方法,其特征在于,所述步骤7中,计算点云配准最优旋转矩阵R*过程为:

对矩阵C进行奇异值分解:

C=U∑VT

trace(RC)=trace(RU∑VT)=trace(∑VTRU)

当VTRU为单位阵时,trace(RC)取最大值,即:

VTR*U=I

R*=VUT

通过对矩阵C的奇异值分解,求得点云配准最优旋转矩阵R*

4.一种计算机设备,其特征在于,包括电连接的存储器和处理器,所述存储器上存储有可在处理器上运行的计算程序,所述处理器执行所述计算程序时,实现权利要求1-3中任意一项所述的方法的步骤。

5.一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1-3中任一项所述的方法的步骤。

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