[发明专利]一种面向SOC芯片的多时钟域并发测试系统及其测试方法有效
| 申请号： | 202110746890.0 | 申请日： | 2021-07-02 |
| 公开（公告）号： | CN113190394B | 公开（公告）日： | 2021-09-28 |
| 发明（设计）人： | 毛国梁;包智杰 | 申请（专利权）人： | 南京宏泰半导体科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F11/36;G01R31/317 |
| 代理公司： | 南京材智汇知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32449 | 代理人： | 冯昌恒 |
| 地址： | 211806 江苏省南京市浦口区*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种面向SOC芯片的多时钟域并发测试系统及其测试方法，属于芯片检测技术领域。本发明板卡系统包括板卡和设置在板卡上的时钟域控制器、插槽总线控制器和测试子系统，时钟域控制器连接测试子系统和插槽总线控制器，插槽总线控制器连接背板总线；测试子系统包括测试处理器和信号处理单元，测试处理器包括测试图形存储器、存储控制器、时序发生器、图形发生器和指令发生器。本发明通过多时钟域并发的测试方法，在提高了单颗SOC芯片测试效率的同时，单颗芯片的测试成本也得到降低，从而提高了利润；对芯片工作在多模块并发工作状态下的失效有更高的检测覆盖率，提高芯片封装后的良率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 面向 soc 芯片 多时 并发 测试 系统 及其 方法 | ||
【主权项】：
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