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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

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B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]一种结型场效应管关断电压的高效测试系统及方法-CN202210777944.4有效
发明人：王伟;包智杰 -专利权人：南京宏泰半导体科技股份有限公司
申请日： 2022-07-04 - 公布日： 2023-08-18 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种结型场效应管关断电压的高效测试系统及方法，包括反向加法运算电路U1、反向放大运算电路U2、积分运算电路U3、反向放大电路U4、飞安级失调电流缓冲运放电路U5、采样电阻RX、输出端口三GND，使用四个高精密运放加一个飞安级输入失调电流缓冲运放的巧妙组合设计，实现了JFET关断电压VGS(off)的快速测试，飞安级输入失调电流缓冲运放作为VD电压的跟随采集运放，在能够准确采集VD电压的同时，对原有电路中的电流影响可忽略不计，利用积分运放的输入输出特性，基于电路平衡的特点，使用VD电压采集作为补偿，实现VGS(th)准确测量。
一种场效应断电高效测试系统方法

[实用新型]一种网口防呆结构-CN202320603433.0有效
发明人：方毅;包智杰 -专利权人：南京宏泰半导体科技股份有限公司
申请日： 2023-03-23 - 公布日： 2023-08-15 - 主分类号： H01R13/64 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种网口防呆结构，涉及到测试设备技术领域，本实用新型通过防呆挡板和防呆插头的设置，工作人员只需将网线插头通过固定件固定在防呆插头上，之后将防呆插头通过插接件与防呆挡板上相应的防呆插孔插接固定，此时，网线插头与板卡网口的网口同样插接固定，完成网线插头的区分插接作业；通过改变防呆插头和防呆挡板组合的形式来做到网线和网口点对点之间的防呆，使对应的网线插头和板卡网口之间形成互相咬合的接口模式，从而做到接口之间的区分，减少人力投入，同时减少因插错线缆导致板卡数据传输错误；有效的降低了测试设备网口扩展设计难度，提高网线插头防呆的广泛性、实用性。
一种网口防呆结构

[发明专利]一种双极结型晶体管ICEO参数快速测试装置及方法-CN202210914682.1有效
发明人：谢可心;包智杰 -专利权人：南京宏泰半导体科技股份有限公司
申请日： 2022-08-01 - 公布日： 2023-08-01 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种双极结型晶体管ICEO参数快速测试装置及方法，包括测试设备、含开关二的电路板，ICEO参数测试时，在ICEO参数测试项程序内部设置控制信号CBIT电平反转，使开关二断开并保持断开状态；双极结型晶体管的基极与测试设备不再连接，而集电极和发射极正常连接测试设备，测试设备执行ICEO参数测试动作；测试完成后，控制信号CBIT电平再次反转，使开关二闭合并保持闭合状态，双极结型晶体管的基极、集电极、发射极通过再次与测试设备连接，测试设备执行剩余其他项目。本发明不仅缩短了ICEO参数测试时间，而且提高了ICEO参数测试值的准确性和稳定性。
一种双极结型晶体管 iceo 参数快速测试装置方法

[发明专利]一种常高温产品的高性能测试系统及方法-CN202310286798.X在审
发明人： 包智杰;时军华 -专利权人：南京宏泰半导体科技股份有限公司
申请日： 2023-03-22 - 公布日： 2023-07-11 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种常高温产品的高性能测试系统及方法，包括测试子系统和常温高温测试分选子系统，测试子系统包括主工控机、从工控机，所述常温高温测试分选子系统高温转盘单元，所述高温转盘单元包括依次连接的表面特征扫描模组一、常温测试模组、高温隧道模组、表面特征扫描模组二、高温测试模组、降温隧道装置。根据被测试芯片的赋予ID的常温测试数据和赋予ID的高温测试数据，根据被测试芯片的同一ID的常温测试数据和高温测试数据进行对比，从而得到同一芯片在同一平台下实现常高温一同测试的芯片差异，进而筛选出性能指标更加优良的产品。本发明使得筛选出的芯片性能更稳定，且筛选出的产品性能更加优良。
一种高温产品性能测试系统方法

[发明专利]一种ATE测试数据转换方法及系统-CN202310048817.5在审
发明人：李海明;肖纯伟;包智杰 -专利权人：上海谐振半导体科技有限公司
申请日： 2023-02-01 - 公布日： 2023-04-28 - 主分类号： G06F40/151 文献下载
摘要：本发明公开了一种ATE测试数据转换方法及系统，通过对原始数据的Excel单元格中具体行列查询，先锁定用户需要的单元格，再提取单元格内容，将锁定需求的单元格行和列与存放目标文件的单元格行和列一一对应，通过面向界面的方式选择目标文件的数据，将数据导入到样板对应位置，采用labview的框架结构对数据处理，用户在面向界面中选择原始数据整体或按照预定的数量进行原始数据转换，便于根据用户的需求进行原始数据整体转换或者按照预定的数量转换，提高客户需求的兼容性，通过labview的框架结构对数据处理，有效提高提取原始数据中的有效信息，减少使用者的工作量。
一种 ate 测试数据转换方法系统

[发明专利]一种阵列二极管芯片高效漏电流测试系统及方法-CN202210797229.7有效
发明人：王伟;包智杰;夏玲慧 -专利权人：南京宏泰半导体科技股份有限公司
申请日： 2022-07-08 - 公布日： 2023-04-07 - 主分类号： G01R31/52 文献下载
摘要：本发明公开了一种阵列二极管芯片高效漏电流测试系统及方法，包括输入电路、电源电路、电路转换模块、控制电路和输出电路，输入电路用于实现测试机到测试板的输入和信息交换；电源电路提供电路所需的电源供应电路；控制模块用于控制电路转换模块实现不同测试条件下，完成特定的电路输出功能；输出电路完成和外部待测器件的连接。本发明利用测试机三组输出中的两组作为输出端，另外一组作为输入测试端，通过双刀双掷开关完成输出到不同脚位间的切换。本发明实现了对阵列二极管芯片的测试，降低了测试成本，提高了测试稳定性，同时减少了测试时间，提升了测试效率。
一种阵列二极管芯片高效漏电测试系统方法

[发明专利]一种SOC测试系统快速校准装置及方法-CN202310152392.2在审
发明人：段俊浩;李全任;包智杰 -专利权人：南京宏泰半导体科技股份有限公司
申请日： 2023-02-23 - 公布日： 2023-03-28 - 主分类号： G01R35/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种SOC测试系统快速校准装置及方法，用于SOC测试系统的校准，包括SOC测试系统校准源板卡和万用表，所述SOC测试系统安装有两块以上的功能板卡，每个功能板卡上设置有LoadMeasure模块和两个以上的PMU模块，每个功能板卡上的所有的模块EXT_FEXT_S输出端口连接到公共EXT_FEXT_S总线上；所述SOC测试系统校准源板卡分别与每个功能板卡的公共EXT_FEXT_S总线、每个功能板卡的LoadMeasure模块、万用表连接。本发明可通过对各功能板卡间高速并行的校准，快速提高校准时间。
一种 soc 测试系统快速校准装置方法

[发明专利]分立器件半导体测试系统测试站自动切换校准装置及方法-CN202211589966.4在审
发明人：李飞龙;包智杰 -专利权人：南京宏泰半导体科技有限公司
申请日： 2022-12-12 - 公布日： 2023-01-13 - 主分类号： G01R35/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种分立器件半导体测试系统测试站自动切换校准装置及方法，包括上位机、测试设备、智能切换盒、校准盒、校准仪器，上位机依次控制测试设备连接的测试站进行校准测试；当上位机控制第i个测试站进行校准测试时，上位机将第i个测试站的校准测试信号发送给智能切换盒；智能切换盒根据上位机发送的第i个测试站的校准测试信号将第i个测试站的输出校准信号切换发送给校准盒；校准仪器根据校准盒收到的第i个测试站的输出校准信号对第i个测试站进行校准，并将校准情况反馈给上位机。本发明提升设备了利用率和分立器件测试系统可维护性，同时缩短生产周期。
分立器件半导体测试系统自动切换校准装置方法

[实用新型]一种DB插头组合结构-CN202221548016.2有效
发明人：方毅;包智杰 -专利权人：南京宏泰半导体科技有限公司
申请日： 2022-06-20 - 公布日： 2022-12-23 - 主分类号： H01R13/64 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种DB插头组合结构，包括DB插头座一、公头外螺纹车针、母头外螺纹套筒、DB插头座二；所述DB插头座一上设置有内攻丝通孔一，DB插头座二上设置有内攻丝通孔二；部分公头外螺纹车针通过内攻丝通孔一安装在DB插头座一上，另一部分公头外螺纹车针通过内攻丝通孔二安装在DB插头座二上；部分母头外螺纹套筒通过内攻丝通孔一安装在DB插头座一上，另一部分部分母头外螺纹套筒通过内攻丝通孔二安装在DB插头座二上；公头外螺纹车针的位置与母头外螺纹套筒的位置一一对应。本实用新型能够防呆、防止各线束和端口插错，导致板卡因短路烧毁。
一种 db 插头组合结构

[发明专利]一种晶圆多DIE漏电快速测试系统及方法-CN202210874211.2有效
发明人：夏玲慧;包智杰 -专利权人：南京宏泰半导体科技有限公司
申请日： 2022-07-25 - 公布日： 2022-11-08 - 主分类号： G01R31/52 文献下载
摘要：本发明公开了一种晶圆多DIE漏电快速测试系统及方法，包括一路以上的电流处理模块、测试通路选择模块以及电压电流转换模块，所述电流处理模块用于将采集的所需的电流转化为测试电压，并将转换后的测试电压进行放大后输入到测试通路选择模块中；所述测试通路选择模块用于根据需要的待测试电流选择对应的测试电压，并将选择的测试电压输入到电压电流转换模块中；所述电压电流转换模块用于将输入的测试电压转化为电流，此电流即为需要的待测试电流。本发明可以实现多路并行采样测试，且电路简单稳定，提高了测试效率，减少了测试时间，降低了测试成本。
一种晶圆多 die 漏电快速测试系统方法

[发明专利]一种集成电路并发测试装置及方法-CN202210536671.4有效
发明人：毛国梁;吴炎林;包智杰 -专利权人：南京宏泰半导体科技有限公司
申请日： 2022-05-18 - 公布日： 2022-10-28 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种集成电路并发测试装置及方法，包括测试处理器TP、Parameter Pattern编译器PPC、通道参数测试控制器PTC、仪表控制总线ICB，在测试处理器与模拟测试通道间建立新的控制总线，并实现模拟测试通道在测试处理器与模拟测试通道间的编译与解释执行，进而实现将模拟信号测试与数字信号测试都统一到测试处理器中，本发明不仅能够提高测试效率，而且提高了测试覆盖率。
一种集成电路并发测试装置方法

[实用新型]一种基于特斯拉阀结构的芯片散热装置-CN202221949747.8有效
发明人：王伟;包智杰 -专利权人：南京宏泰半导体科技有限公司
申请日： 2022-07-26 - 公布日： 2022-10-28 - 主分类号： H01L23/467 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种基于特斯拉阀结构的芯片散热装置，包括底座、片体结构、风源机构，所述片体结构包括一个以上的叶片，所述叶片上设置有特斯拉阀结构通道，且所述特斯拉阀结构通道贯通所在叶片；所述叶片安装在底座上，所述底座上设置有固定孔，所述固定孔用于固定底座或连接芯片；所述风源机构与底座相固定连接，且所述风源机构的吹风方向指向特斯拉阀结构通道的正向流入孔。本实用新型不仅功耗低，而且散热快。
一种基于特斯拉结构芯片散热装置

[发明专利]一种上位机控制外围设备测试的方法-CN202210895777.3有效
发明人：石建春;包智杰 -专利权人：南京宏泰半导体科技有限公司
申请日： 2022-07-28 - 公布日： 2022-10-25 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种上位机控制外围设备测试的方法，上位机将需要测试信息发送给下位机进行测试；下位机接收上位机发送的需要测试信息，下位机判断是否需要三方测试，若需要三方测试，则下位机向上位机发送三方测试项请求信息，下位机根据需要测试信息控制测试仪器对测试件进行测试，得到下位机测试数据，上位机根据下位机发送的三方测试项请求信息控制第三方测试仪器对测试件进行测试，得到三方测试数据；上位机将三方测试数据发送给下位机，下位机根据三方测试数据和下位机测试数据得到最终测试结果；本发明免除了上位机对测试数据分析判断功能，消耗功率少。
一种上位控制外围设备测试方法

[发明专利]一种高端电压差分采样校准系统及方法-CN202210813322.2有效
发明人：钟兴;包智杰 -专利权人：南京宏泰半导体科技有限公司
申请日： 2022-07-12 - 公布日： 2022-10-21 - 主分类号： G01R35/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种高端电压差分采样校准系统及方法，包括精度检测仪、校准控制器、差分运算放大器、比较器、储存器、DAC转换器，通过DAC转换器U1转换输出的特性实现采集电压信号数值转换达到高精度输出电压差，使用高精度检测仪、高精密校准控制器与差分运算放大器输出电压做比较将差值校准补偿到输出端，实现输出电压稳定状态。本发明提高了电压输出的稳定性与精准性，其测量精度高，成效高，稳定性极佳。
一种高端电压采样校准系统方法

[发明专利]一种降低高压测试机电源功耗电路及方法-CN202210755751.9有效
发明人：李凌志;包智杰 -专利权人：南京宏泰半导体科技有限公司
申请日： 2022-06-30 - 公布日： 2022-09-30 - 主分类号： H02M3/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种降低高压测试机电源功耗电路及方法，包括高压电压源单元、电流控制开关单元、控制电路单元，所述高压电压源单元包括n个DC电压源模块、（n‑1）个二极管以及（n‑1）个电阻，所述电流控制开关单元包括（n‑1）个电流控制开关，控制电路单元根据所需测量条件实现控制各个功率管工作状态，通过各个功率管工作状态控制每个直流电压源实际输出状态，以满足被测器件测试所需的电气参数。在保持实际最大输出电压不变的前提下采用n个DC电压源模块串联得到高压电压源，串联的每个DC电压源模块实际输出状态由电流控制开关单元中的电流控制开关单独控制。本发明能够实现降低功耗，提升回路效率。
一种降低高压测试机电功耗电路方法

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