[发明专利]MOSFET检测电路及方法有效
| 申请号: | 202110726619.0 | 申请日: | 2021-06-29 |
| 公开(公告)号: | CN113447789B | 公开(公告)日: | 2022-12-30 |
| 发明(设计)人: | 蔡浩;周鹏书;雷华;欧阳婷;岑有重;李毅飞 | 申请(专利权)人: | 深圳赛意法微电子有限公司 |
| 主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26 |
| 代理公司: | 广州市越秀区哲力专利商标事务所(普通合伙) 44288 | 代理人: | 曾令军 |
| 地址: | 518038 广东省深圳*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | 本发明公开MOSFET检测电路和检测方法,通过对现有MOSFET雪崩击穿检测电路进行改进,引入驱动MOSFET作为电路开关,从而使得待测MOSFET不需要再在电路中作为电路开关使用,从而使得待测MOSFET的栅极上不需要接入启动电压,避免了栅极寄生电容对雪崩击穿电压变化时间的影响,使得获得的待测MOSFET的电压变化率提高,以满足实际应用中对MOSFET的电压变化率的要求。 | ||
| 搜索关键词: | mosfet 检测 电路 方法 | ||
【主权项】:
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