[发明专利]半导体结构及半导体结构的形成方法有效
申请号: | 202110722814.6 | 申请日: | 2021-06-29 |
公开(公告)号: | CN113192955B | 公开(公告)日: | 2021-09-24 |
发明(设计)人: | 刘藩东;华文宇;何波涌 | 申请(专利权)人: | 芯盟科技有限公司 |
主分类号: | H01L27/108 | 分类号: | H01L27/108;H01L21/8242 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 徐文欣 |
地址: | 314400 浙江省嘉兴市海宁市海*** | 国省代码: | 浙江;33 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种半导体结构及半导体结构的形成方法,结构包括:衬底,所述衬底包括相对的第一面和第二面,所述衬底包括若干相互分立的有源区,若干所述有源区沿第一方向排列,且若干所述有源区平行于第二方向,所述第一方向与第二方向相互垂直;位于所述衬底内的若干第一凹槽,所述第一凹槽自第一面向第二面延伸,若干所述第一凹槽沿第二方向排列,且所述第一凹槽沿第一方向贯穿若干所述有源区;位于第一凹槽内的字线栅极结构,所述字线栅极结构内包括相对的第一侧区和第二侧区,所述第二侧区与所述有源区邻接;位于字线栅极结构第一侧区和有源区之间的密闭腔。所述半导体结构的性能得到提升。 | ||
搜索关键词: | 半导体 结构 形成 方法 | ||
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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