[发明专利]半导体结构及半导体结构的形成方法有效

专利信息
申请号: 202110722814.6 申请日: 2021-06-29
公开(公告)号: CN113192955B 公开(公告)日: 2021-09-24
发明(设计)人: 刘藩东;华文宇;何波涌 申请(专利权)人: 芯盟科技有限公司
主分类号: H01L27/108 分类号: H01L27/108;H01L21/8242
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 徐文欣
地址: 314400 浙江省嘉兴市海宁市海*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 一种半导体结构及半导体结构的形成方法,结构包括:衬底,所述衬底包括相对的第一面和第二面,所述衬底包括若干相互分立的有源区,若干所述有源区沿第一方向排列,且若干所述有源区平行于第二方向,所述第一方向与第二方向相互垂直;位于所述衬底内的若干第一凹槽,所述第一凹槽自第一面向第二面延伸,若干所述第一凹槽沿第二方向排列,且所述第一凹槽沿第一方向贯穿若干所述有源区;位于第一凹槽内的字线栅极结构,所述字线栅极结构内包括相对的第一侧区和第二侧区,所述第二侧区与所述有源区邻接;位于字线栅极结构第一侧区和有源区之间的密闭腔。所述半导体结构的性能得到提升。
搜索关键词: 半导体 结构 形成 方法
【主权项】:
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