[发明专利]一种改善金属功函数边界效应的方法在审

专利信息
申请号: 202110685076.2 申请日: 2021-06-21
公开(公告)号: CN113506803A 公开(公告)日: 2021-10-15
发明(设计)人: 翁文寅 申请(专利权)人: 上海华力集成电路制造有限公司
主分类号: H01L27/11 分类号: H01L27/11
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人: 戴广志
地址: 201203 上海市浦*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种改善金属功函数边界效应的方法,在第一至第四Fin结构上沉积第一TiN层;第二、第三Fin结构上的第一TiN层连续分布;去除第三Fin结构上的第一TiN层;被去除的第一TiN层的边缘位于第二、第三Fin结构中线处向第二Fin结构推进第一距离处;沉积第二TiN层,第二、第三Fin结构上的第二TiN层连续分布;去除第二Fin结构及其上的第二、第一TiN层;第二、第三Fin结构间靠近第二Fin结构的部分第二TiN层被去除,被去除的第二TiN层的边缘从第二、第三Fin结构中线处向第二Fin结构推进第二距离。采用本发明的方法可以使得超低阈值电压P型管的Fin结构底部边缘的TiN层厚度更薄;在刻蚀时使得TiN层不易出现底部切断现象,从而减小金属边界效应,有利于增大器件的阈值电压。
搜索关键词: 一种 改善 金属 函数 边界 效应 方法
【主权项】:
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