[发明专利]半导体器件及其制造方法在审

专利信息
申请号: 202110475581.4 申请日: 2021-04-29
公开(公告)号: CN113571520A 公开(公告)日: 2021-10-29
发明(设计)人: 邱奕正;林天声;许胜福;李陈毅;钟久华 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L27/092 分类号: H01L27/092;H01L21/8238
代理公司: 南京正联知识产权代理有限公司 32243 代理人: 顾伯兴
地址: 中国台湾新竹科*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 提供一种半导体器件及其制造方法。所述半导体器件具有位于衬底中的源极区及漏极区、栅极结构以及金属线。源极区在衬底中环绕漏极区。栅极结构设置在衬底上,且设置在源极区与漏极区之间。栅极结构环绕漏极区。金属线位于源极区及漏极区以及栅极结构上方且电连接到漏极区或源极区。源极区包括掺杂区,所述掺杂区具有位于所述掺杂区的两个相对端部之间的断开区。金属线从漏极区延伸、跨越栅极结构且跨越断开区并超过源极区。
搜索关键词: 半导体器件 及其 制造 方法
【主权项】:
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