[发明专利]一种大功率LED模组封装缺陷的检测方法及应用有效

专利信息
申请号: 202110471256.0 申请日: 2021-04-29
公开(公告)号: CN113192027B 公开(公告)日: 2023-03-24
发明(设计)人: 胡跃明;章晓晗;曾勇 申请(专利权)人: 华南理工大学;广州现代产业技术研究院
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T5/00;G06T7/13;G06T7/30
代理公司: 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 代理人: 郑秋松
地址: 511458 广东省广州市*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种大功率LED模组封装缺陷的检测方法及应用,该方法包括焊线缺陷检测和荧光粉胶均匀度检测步骤;焊线缺陷检测步骤包括:将LED图像并转换为HSI模型,取i分量基于变分Retinex模型进行图像增强;对图像焊线轮廓进行特征识别;将待测板与标准板进行图像配准,对缺陷部分进行形态学操作得到缺陷轮廓,标记缺陷部分;荧光粉胶均匀度检测步骤包括:取h分量和s分量之和基于变分Retinex模型进行图像增强;将待测板与未贴上荧光粉胶的标准板进行图像配准,做差值运算得到荧光粉分布特征;利用霍夫圆检测确定每个COB模组位置,标记缺陷部分。本发明针对不同的检测问题提取不同分量,提升了检测效率和检测精度。
搜索关键词: 一种 大功率 led 模组 封装 缺陷 检测 方法 应用
【主权项】:
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