[发明专利]一种大功率LED模组封装缺陷的检测方法及应用有效
申请号: | 202110471256.0 | 申请日: | 2021-04-29 |
公开(公告)号: | CN113192027B | 公开(公告)日: | 2023-03-24 |
发明(设计)人: | 胡跃明;章晓晗;曾勇 | 申请(专利权)人: | 华南理工大学;广州现代产业技术研究院 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T5/00;G06T7/13;G06T7/30 |
代理公司: | 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 | 代理人: | 郑秋松 |
地址: | 511458 广东省广州市*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种大功率LED模组封装缺陷的检测方法及应用,该方法包括焊线缺陷检测和荧光粉胶均匀度检测步骤;焊线缺陷检测步骤包括:将LED图像并转换为HSI模型,取i分量基于变分Retinex模型进行图像增强;对图像焊线轮廓进行特征识别;将待测板与标准板进行图像配准,对缺陷部分进行形态学操作得到缺陷轮廓,标记缺陷部分;荧光粉胶均匀度检测步骤包括:取h分量和s分量之和基于变分Retinex模型进行图像增强;将待测板与未贴上荧光粉胶的标准板进行图像配准,做差值运算得到荧光粉分布特征;利用霍夫圆检测确定每个COB模组位置,标记缺陷部分。本发明针对不同的检测问题提取不同分量,提升了检测效率和检测精度。 | ||
搜索关键词: | 一种 大功率 led 模组 封装 缺陷 检测 方法 应用 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华南理工大学;广州现代产业技术研究院,未经华南理工大学;广州现代产业技术研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202110471256.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:FRP-SMA钢桥面铺装结构
- 下一篇:一种大电流无极性的肖特基二极管