[发明专利]一种反光表面缺陷检测方法、系统及电子设备在审

专利信息
申请号: 202110409731.1 申请日: 2021-04-16
公开(公告)号: CN113192013A 公开(公告)日: 2021-07-30
发明(设计)人: 刘宏展;陶嘉敏;金梦;刘文怡;陈利 申请(专利权)人: 华南师范大学
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/40;G06N3/08;G06N3/04
代理公司: 广州容大知识产权代理事务所(普通合伙) 44326 代理人: 刘新年
地址: 510006 广东省广州市番禺区*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供了一种反光表面缺陷检测方法、系统及电子设备。该方案包括使用LCD显示屏产生4幅相位步长差为π/2的标准正弦条纹光栅,并投影在反光表面,然后通过相机采集经反光面反射的条纹图像发送至所述监测计算机;在所述4幅条纹图像中确定平面坐标系,计算包裹相位图和调制度图;通过图像融合网络将所述包裹相位图和所述调制度图融合为中间融合图,并通过数据增强处理,进行目标网络的训练,生成目标检测模型,判断所述目标检测模型的评价性能。该方案通过条纹反射法进行包裹相位和调制度数据提取,进而结合包裹相位和调制度数据的多源融合数据处理,并利用改进网络结构,实现光滑表面缺陷精准识别。
搜索关键词: 一种 反光 表面 缺陷 检测 方法 系统 电子设备
【主权项】:
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