[发明专利]一种反光表面缺陷检测方法、系统及电子设备

权利要求书

1.一种反光表面缺陷检测方法，其特征在于，该方法包括：

监测计算机向LCD显示屏发出控制命令，在待测物体表面生成4幅条纹图像，并通过相机采集经过所述待测物体表面反射生成的所述4幅条纹图像，并将所述4幅条纹图像发送至所述监测计算机，其中，所述4幅条纹图像为相位步长差为π/2的标准正弦条纹光栅；

所述监测计算机根据所述4幅条纹图像，自动识别像素点，在对应平面坐标系下将所述4幅条纹图像分别表示为第一合成光强、第二合成光强、第三合成光强和第四合成光强的形式；

获取所述第一合成光强、所述第二合成光强、所述第三合成光强、所述第四合成光强，计算包裹相位图和调制度图；

通过图像融合网络将所述包裹相位图和所述调制度图融合为中间融合图；

对所述中间融合图通过数据增强处理，生成训练图像；

对所述训练图像进行目标网络的训练，生成目标检测模型；

根据所述目标检测模型计算准确度、召回率和性能指标分数，判断所述目标检测模型的评价性能。

2.如权利要求1所述的一种反光表面缺陷检测方法，其特征在于，监测计算机向LCD显示屏发出控制命令，在待测物体表面生成4幅条纹图像，并通过相机采集经过所述待测物体表面反射生成的所述4幅条纹图像，并将所述4幅条纹图像发送至所述监测计算机，其中，所述4幅条纹图像为相位步长差为π/2的标准正弦条纹光栅，具体包括：

监测计算机向LCD显示屏发出控制命令；

使用LCD显示屏依次产生4幅光栅条纹光源，其中，所述4幅光栅条纹光源分别为第一条纹光源、第二条纹光源、第三条纹光源和第四条纹光源；

所述4幅光栅条纹光源投射至待检测物体表面；

通过所述相机拍摄所述待检测物体表面，依次生成所述4幅条纹图像，其中，所述4幅条纹图像具体包括第一条纹图像、第二条纹图像、第三条纹图像和第四条纹图像；

将所述4幅条纹图像由所述相机发送至监测计算机。

3.如权利要求2所述的一种反光表面缺陷检测方法，其特征在于，所述监测计算机根据所述4幅条纹图像，自动识别像素点，在对应平面坐标系下将所述4幅条纹图像分别表示为第一合成光强、第二合成光强、第三合成光强和第四合成光强的形式，具体包括：

在所述4幅条纹图像中确定对应的所述平面坐标系，其中，所述平面坐标系包括第一坐标系、第二坐标系、第三坐标系和第四坐标系；

在所述第一坐标系内，提取所述第一条纹图像的背景光强、条纹对比度和相位值，并利用第一计算公式将所述第一条纹图像表示为所述第一合成光强的形式；

在所述第二坐标系内，提取所述第二条纹图像的背景光强、条纹对比度和相位值，并利用第二计算公式将所述第二条纹图像表示为所述第二合成光强的形式；

在所述第三坐标系内，提取所述第三条纹图像的背景光强、条纹对比度和相位值，并利用第三计算公式将所述第三条纹图像表示为所述第三合成光强的形式；

在所述第四坐标系内，提取所述第四条纹图像的背景光强、条纹对比度和相位值，并利用第四计算公式将所述第四条纹图像表示为所述第四合成光强的形式；

所述第一计算公式为：

其中，I₁为所述第一合成光强，a₁(x₁，y₁)为所述第一条纹图像的背景光强，b₁(x₁，y₁)为所述第一条纹图像的条纹对比度，为所述第一条纹图像的相位值，x₁为所述第一坐标系内的横坐标值，y₁为所述第一坐标系内的纵坐标值；

所述第二计算公式为：

其中，I₂为所述第二合成光强，a₂(x₂，y₂)为所述第二条纹图像的背景光强，b₂(x₂，y₂)为所述第二条纹图像的条纹对比度，为所述第二条纹图像的相位值，x₂为所述第二坐标系内的横坐标值，y₂为所述第二坐标系内的纵坐标值；

所述第三计算公式为：

其中，I₃为所述第三合成光强，a₃(x₃，y₃)为所述第三条纹图像的背景光强，b₃(x₃，y₃)为所述第三条纹图像的条纹对比度，为所述第三条纹图像的相位值，x₃为所述第三坐标系内的横坐标值，y₃为所述第三坐标系内的纵坐标值；

所述第四计算公式为：

其中，I₄为所述第四合成光强，a₄(x₄，y₄)为所述第四条纹图像的背景光强，b₄(x₄，y₄)为所述第四条纹图像的条纹对比度，为所述第四条纹图像的相位值，x₄为所述第四坐标系内的横坐标值，y₄为所述第四坐标系内的纵坐标值。