[发明专利]检查装置和检查方法在审
| 申请号： | 202110279311.6 | 申请日： | 2021-03-16 |
| 公开（公告）号： | CN113494993A | 公开（公告）日： | 2021-10-12 |
| 发明（设计）人： | 森数洋司 | 申请（专利权）人： | 株式会社迪思科 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;G01J1/42;B23K26/70;B23K26/38;B23K26/046 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 于靖帅;乔婉 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供检查装置和检查方法，能够高精度地检测激光光线的高斯分布的等高线。激光振荡器的检查装置包含：减光板，其使刚刚从激光振荡器射出后的激光光线减光；拍摄单元，其利用多个像素对被减光板减光的激光光线进行拍摄；处理单元，其对拍摄单元所拍摄到的图像进行处理；以及显示单元，其显示由处理单元处理的图像。处理单元具有划分激光光线的强度的至少内圈和外圈这两个阈值。 | ||
| 搜索关键词： | 检查 装置 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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