[发明专利]光调制元件的光学特性的测定方法、测定装置以及记录介质在审
| 申请号： | 202110254723.4 | 申请日： | 2021-03-09 |
| 公开（公告）号： | CN113494992A | 公开（公告）日： | 2021-10-12 |
| 发明（设计）人： | 藤井康祐 | 申请（专利权）人： | 住友电气工业株式会社 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人： | 季莹;方应星 |
| 地址： | 日本大阪*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种光调制元件的光学特性的测定方法、测定装置以及记录介质，能够自动地对光调制元件与光纤进行调芯。一种测定方法，是马赫‑曾德尔型的光调制元件的光学特性的测定方法，所述光调制元件具有入射部、传输从所述入射部入射的光的波导及射出所述光的多个出射部，其中，所述测定方法包括如下步骤：使光经由第一光纤从光源入射到所述光调制元件的入射部；多个光接收部接收从所述光调制元件的多个出射部射出的出射光；将所述多个光接收部的每一个通过接收所述出射光而输出的电信号转换成电流，并通过对所述电流的大小进行合计而取得合计值；及基于所述合计值来进行所述光调制元件的入射部与所述第一光纤之间的调芯。 | ||
| 搜索关键词： | 调制 元件 光学 特性 测定 方法 装置 以及 记录 介质 | ||
【主权项】：
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