[发明专利]光调制元件的光学特性的测定方法、测定装置以及记录介质

说明书

本发明提供一种光调制元件的光学特性的测定方法、测定装置以及记录介质，能够自动地对光调制元件与光纤进行调芯。一种测定方法，是马赫‑曾德尔型的光调制元件的光学特性的测定方法，所述光调制元件具有入射部、传输从所述入射部入射的光的波导及射出所述光的多个出射部，其中，所述测定方法包括如下步骤：使光经由第一光纤从光源入射到所述光调制元件的入射部；多个光接收部接收从所述光调制元件的多个出射部射出的出射光；将所述多个光接收部的每一个通过接收所述出射光而输出的电信号转换成电流，并通过对所述电流的大小进行合计而取得合计值；及基于所述合计值来进行所述光调制元件的入射部与所述第一光纤之间的调芯。

技术领域

本公开涉及光调制元件的光学特性的测定方法、测定装置以及记录介质。

背景技术

正交相移键控(QPSK：Quadrature Phase Shift Keying)方式等的光通信系统例如使用马赫-曾德尔型的光调制元件。这样的光调制元件具有多个波导、入射端口和多个出射端口。在波导设置有调制用电极和相位调整用电极。

在光调制元件的光学特性的测定中，进行光调制元件的入射端口与光纤之间的调芯。具有以使因光的入射而流过光调制元件的电极的光电流最大化的方式进行调芯的方法(例如专利文献1)。

专利文献1：日本特开2015-206977号公报

发明内容

另一方面，有时也基于从光调制元件输出的光的功率进行调芯。但是，对于每个光调制元件，光调制元件的多个出射端口间的光功率的平衡发生变化。即，对于每个光调制元件，从一个出射端口射出的光的功率发生变化。因此，难以一边检测出射光的光功率一边自动地进行调芯。因此，本发明的目的在于提供一种能够自动地对光调制元件与光纤进行调芯的光调制元件的光学特性的测定方法、测定装置以及记录介质。

本公开的光调制元件的光学特性的测定方法是马赫-曾德尔型的光调制元件的光学特性的测定方法，所述光调制元件具有入射部、传输从所述入射部入射的光的波导及射出所述光的多个出射部，其中，所述测定方法包括如下步骤：使光经由第一光纤从光源入射到所述光调制元件的入射部；多个光接收部接收从所述光调制元件的多个出射部射出的出射光；将所述多个光接收部的每一个通过接收所述出射光而输出的电信号转换成电流，并通过对所述电流的大小进行合计而取得合计值；及基于所述合计值来进行所述光调制元件的入射部与所述第一光纤之间的调芯。

本公开的测定装置是马赫-曾德尔型的光调制元件的光学特性的测定装置，所述光调制元件具有入射部、传输从所述入射部入射的光的波导及射出所述光的多个出射部，其中，所述测定装置具备：第一光纤，使从光源射出的光入射到所述光调制元件的入射部；多个光接收部，通过从所述光调制元件的多个出射部射出的出射光入射到该多个光接收部而输出电信号；电流转换部，将所述多个光接收部的每一个输出的电信号转换成电流，并通过对所述电流的大小进行合计而取得合计值；及控制部，基于所述合计值来进行所述光调制元件的入射部与所述第一光纤之间的调芯。

本公开的记录介质记录马赫-曾德尔型的光调制元件的光学特性的测定程序，所述光调制元件具有入射部、传输从所述入射部入射的光的波导及射出所述光的多个出射部，其中，所述测定程序使计算机执行如下处理：使从光源射出的光经由第一光纤入射到光调制元件的入射部；将多个光接收部的每一个通过接收从所述光调制元件的多个出射部射出的出射光而输出的电信号转换成电流，并通过对所述电流的大小进行合计而取得合计值；及基于所述合计值来进行所述光调制元件的入射部与所述第一光纤之间的调芯。

发明效果

根据本公开，能够自动地对光调制元件与光纤进行调芯。

附图说明

图1是例示实施方式的测定装置的示意图。

图2是表示控制部的硬件结构的框图。

图3A是例示光纤阵列及光调制元件的俯视图。