[发明专利]光调制元件的光学特性的测定方法、测定装置以及记录介质

权利要求书

1.一种测定方法，是马赫-曾德尔型的光调制元件的光学特性的测定方法，所述光调制元件具有入射部、传输从所述入射部入射的光的波导及射出所述光的多个出射部，其中，所述测定方法包括如下步骤：

使光经由第一光纤从光源入射到所述光调制元件的入射部；

多个光接收部接收从所述光调制元件的多个出射部射出的出射光；

将所述多个光接收部的每一个通过接收所述出射光而输出的电信号转换成电流，并通过对所述电流的大小进行合计而取得合计值；及

基于所述合计值来进行所述光调制元件的入射部与所述第一光纤之间的调芯。

2.根据权利要求1所述的测定方法，其中，

在进行所述光调制元件的入射部与所述第一光纤之间的调芯的步骤中，以使所述合计值成为最大的方式进行调芯。

3.根据权利要求1或2所述的测定方法，其中，

所述入射部和所述多个出射部设置于所述光调制元件的一个面，

所述测定方法包括如下步骤：在使光从所述光源入射到所述入射部的步骤之前，使排列有所述第一光纤和多个第二光纤的光纤阵列与所述光调制元件的所述一个面相对，

所述多个光接收部接收所述出射光的步骤是所述多个光接收部经由所述多个第二光纤接收所述出射光的步骤。

4.根据权利要求3所述的测定方法，其中，

进行所述光调制元件的入射部与所述第一光纤之间的调芯的步骤包括基于所述合计值来调整所述光纤阵列和所述光调制元件中的至少一方的位置的步骤。

5.根据权利要求1～4中任一项所述的测定方法，其中，

进行所述光调制元件的入射部与所述第一光纤之间的调芯的步骤包括如下步骤：

不向设置在所述光调制元件的波导中的电极施加电压而进行所述光调制元件的入射部与所述第一光纤之间的调芯；及

向设置在所述光调制元件的波导中的电极施加电压而进行所述光调制元件的入射部与所述第一光纤之间的调芯。

6.一种测定装置，是马赫-曾德尔型的光调制元件的光学特性的测定装置，所述光调制元件具有入射部、传输从所述入射部入射的光的波导及射出所述光的多个出射部，其中，所述测定装置具备：

第一光纤，使从光源射出的光入射到所述光调制元件的入射部；

多个光接收部，通过从所述光调制元件的多个出射部射出的出射光入射到该多个光接收部而输出电信号；

电流转换部，将所述多个光接收部的每一个输出的电信号转换成电流，并通过对所述电流的大小进行合计而取得合计值；及

控制部，基于所述合计值来进行所述光调制元件的入射部与所述第一光纤之间的调芯。

7.根据权利要求6所述的测定装置，其中，

所述测定装置具备排列有所述第一光纤和多个第二光纤的光纤阵列，

所述出射光经由所述多个第二光纤入射到所述多个光接收部，

所述控制部基于所述合计值来调整所述光纤阵列和所述光调制元件中的至少一方的位置，从而进行所述调芯。

8.根据权利要求7所述的测定装置，其中，

所述第二光纤的直径大于所述第一光纤的直径。

9.一种记录介质，记录马赫-曾德尔型的光调制元件的光学特性的测定程序，所述光调制元件具有入射部、传输从所述入射部入射的光的波导及射出所述光的多个出射部，其中，

所述测定程序使计算机执行如下处理：

使从光源射出的光经由第一光纤入射到光调制元件的入射部；

将多个光接收部的每一个通过接收从所述光调制元件的多个出射部射出的出射光而输出的电信号转换成电流，并通过对所述电流的大小进行合计而取得合计值；及

基于所述合计值来进行所述光调制元件的入射部与所述第一光纤之间的调芯。