[发明专利]金属氧化物膜、半导体装置以及显示装置在审
| 申请号: | 202110149865.4 | 申请日: | 2016-05-19 |
| 公开(公告)号: | CN113224171A | 公开(公告)日: | 2021-08-06 |
| 发明(设计)人: | 山崎舜平;肥塚纯一;冈崎健一;津吹将志 | 申请(专利权)人: | 株式会社半导体能源研究所 |
| 主分类号: | H01L29/786 | 分类号: | H01L29/786;H01L27/12;C23C16/40 |
| 代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 葛臻翼;董庆 |
| 地址: | 日本神*** | 国省代码: | 暂无信息 |
| 权利要求书: | 暂无信息 | 说明书: | 暂无信息 |
| 摘要: | 提供一种包括结晶部的金属氧化物膜。另外,提供一种物性的稳定性高的金属氧化物膜。另外,提供一种电特性得到提高的金属氧化物膜。另外,提供一种可以提高场效应迁移率的金属氧化物膜。一种包含In、M(M为Al、Ga、Y或Sn)及Zn的金属氧化物膜,该金属氧化物膜包括第一结晶部及第二结晶部,第一结晶部具有c轴取向性,第二结晶部没有c轴取向性,第二结晶部的存在比例高于第一结晶部。 | ||
| 搜索关键词: | 金属 氧化物 半导体 装置 以及 显示装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
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