[发明专利]屏蔽闸极沟槽式金氧半场效晶体管在审

专利信息
申请号: 202110097923.3 申请日: 2021-01-25
公开(公告)号: CN114792722A 公开(公告)日: 2022-07-26
发明(设计)人: 赖东明 申请(专利权)人: 博盛半导体股份有限公司
主分类号: H01L29/10 分类号: H01L29/10;H01L29/423;H01L29/78;H01L21/265
代理公司: 北京汇智英财专利代理事务所(普通合伙) 11301 代理人: 牟长林
地址: 中国台湾新竹县*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 一种屏蔽闸极沟槽式金氧半场效晶体管,其特征在于各沟槽结构内皆具有屏蔽电极及沟槽闸极,另外,通过离子布植技术在沟槽下方的磊晶层内具有一离子注入区,该区域布植有与磊晶层相反电性的少数载子,使本发明在不需增加磊晶层厚度的情况下,即可达到提高崩溃电压的功效。
搜索关键词: 屏蔽 沟槽 式金氧 半场 晶体管
【主权项】:
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