[发明专利]基板处理装置、半导体装置的制造方法、程序及气体供给系统在审

专利信息
申请号: 202080047667.0 申请日: 2020-07-01
公开(公告)号: CN114026267A 公开(公告)日: 2022-02-08
发明(设计)人: 永冨佳将;漆原美香;佐佐木隆史 申请(专利权)人: 株式会社国际电气
主分类号: C23C16/455 分类号: C23C16/455;C23C16/52
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 金成哲;宋春华
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 控制在基板上形成的膜的膜厚分布。基板处理装置包括:处理气体喷嘴,向处理室内供给处理气体;惰性气体喷嘴,以处理气体喷嘴为中心沿周向夹着的方式分别被设置2个以上,并将惰性气体供给到处理室内;处理气体供给部,向处理气体喷嘴供给处理气体;惰性气体供给部,向各个惰性气体喷嘴供给惰性气体;以及控制部,构成为能够分别控制从处理气体供给部向处理气体喷嘴供给的处理气体的流量和从惰性气体供给部向各个惰性气体喷嘴供给的各惰性气体的流量。
搜索关键词: 处理 装置 半导体 制造 方法 程序 气体 供给 系统
【主权项】:
暂无信息
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