[发明专利]无成核的钨沉积在审

专利信息
申请号: 202080037670.4 申请日: 2020-05-18
公开(公告)号: CN113874545A 公开(公告)日: 2021-12-31
发明(设计)人: 塞马·埃梅兹;邓若鹏;西冈丰;巴晓兰;桑杰·戈皮纳特;米卡尔·达内克 申请(专利权)人: 朗姆研究公司
主分类号: C23C16/02 分类号: C23C16/02;C23C16/14;C23C16/24;C23C16/28;C23C16/30;C23C16/455;H01L21/768;H01L27/11548;H01L27/11556;H01L27/11575;H01L27/11582
代理公司: 上海胜康律师事务所 31263 代理人: 樊英如;张静
地址: 美国加利*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 本文提供了在不沉积成核层的情况下沉积钨(W)膜的方法。在某些实施方案中,该方法包括在衬底上沉积硼(B)和/或硅(Si)的共形还原剂层。衬底通常包括待用钨填充的特征,其中还原剂层与包括该特征的衬底的形貌共形。然后将还原剂层暴露于含氟钨前体,该前体被还原剂层还原以形成元素钨层。共形还原剂层转化为共形钨层。
搜索关键词: 成核 沉积
【主权项】:
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