[实用新型]一种用于半导体晶体除杂的装置有效

专利信息
申请号: 202023316150.3 申请日: 2020-12-31
公开(公告)号: CN213691974U 公开(公告)日: 2021-07-13
发明(设计)人: 徐永帅 申请(专利权)人: 深圳天成先进材料科技有限公司
主分类号: H01L21/67 分类号: H01L21/67;H01L21/687
代理公司: 深圳茂达智联知识产权代理事务所(普通合伙) 44394 代理人: 徐文军
地址: 518000 广东省深圳市龙岗区南湾*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开了一种用于半导体晶体除杂的装置,包括进气管,所述进气管上固定安装有圆形隔板,所述进气管的一端伸进半导体晶体固定槽内,所述半导体晶体固定槽开设在除杂箱内,所述半导体晶体固定槽上转动连接有顶盖,所述顶盖的一侧转动连接有电动伸缩杆,所述电动伸缩杆的底部转动连接在除杂箱上,所述顶盖上转动连接有蜗轮,所述蜗轮与蜗杆啮合,所述蜗杆的外壁与固定筒的内壁转动连接,所述固定筒固定连接在顶盖上,所述蜗杆穿过固定筒的一端与电机二的输出端固定安装。本实用新型,采用气体喷吹除杂,并且伴随晶体夹持后旋转,提高除杂效果,解决了背景技术中提出的问题。
搜索关键词: 一种 用于 半导体 晶体 装置
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