[实用新型]一种半导体检测用测试台

摘要

本实用新型公开了一种半导体检测用测试台，包括上检测盒和下箱体，所述上检测盒安装在下箱体的上端，所述上检测盒一侧设有凸型口，所述凸型口处安装有箱门，且箱门与上检测盒之间设有密封结构，所述测试台安装在滑动安装板上，所述滑动安装板滑动安装在固定座上，所述固定座固定安装在上检测盒内，所述上检测盒底部位于固定座两侧分别设有吸气口和输气口，所述上检测盒两侧安装有转动连接件，本实用新型通过在上检测盒上只设置一个凸型口，其他采用一体式结构，并将凸型口处的箱门处安装两组橡胶垫圈组成的密封结构，箱门关闭时，两组橡胶垫圈紧密贴合，使得箱门与上检测盒之间密封性好，整个上检测盒具有良好的密封性。