[实用新型]一种半导体精密测试设备

摘要

本实用新型公开了一种半导体精密测试设备，包括底座，所述底座上开设有用于输送半导体芯片的输送槽，且输送槽的右端呈倾斜向下设置，所述底座上设置有用于半导体芯片推进的推进装置，所述输送槽上开设有出料槽。本实用新型通过推进装置和阻挡机构的配合设置可实现多个依次抵紧的半导体芯片准确定位，接着通过伸缩机构的设置使得安装板向下运动，从而使得基板与最前方待检测的半导体芯片结合，这样通过电流表和电流传感器完成检测，则检测合格的通过阻挡机构向前输送，检测不合格的进入到出料槽内，这样通过半自动化的检测设备可加速半导体芯片的检测速度，且受人为因素影响较小。