[实用新型]一种半导体精密测试设备

权利要求书

1.一种半导体精密测试设备，其特征在于，包括底座(1)，所述底座(1)上开设有用于输送半导体芯片(2)的输送槽(3)，且输送槽(3)的右端呈倾斜向下设置，所述底座(1)上设置有用于半导体芯片(2)推进的推进装置，所述输送槽(3)上开设有出料槽(4)，所述出料槽(4)的槽口处设置有下料放置机构，所述输送槽(3)的内侧壁设置有阻挡机构，所述底座(1)上设置有L型板(5)，所述L型板(5)通过伸缩机构连接有安装板(6)，所述安装板(6)的底部设置有用于检测半导体芯片(2)的基板(7)，且基板(7)位于出料槽(4)的正上方，所述安装板(6)上安装有电流表(8)和电流传感器(9)，且电流表(8)、电流传感器(9)与基板(7)电连接，且电连接方式为串联连接。

2.根据权利要求1所述的一种半导体精密测试设备，其特征在于，所述推进装置包括固定连接在底座(1)外侧壁上的第一电动推杆(10)，所述第一电动推杆(10)的输出端连接有推动板(11)，且输送槽(3)的侧壁上开设有与推动板(11)对应的推动槽。

3.根据权利要求1所述的一种半导体精密测试设备，其特征在于，所述下料放置机构包括固定连接在底座(1)外侧壁上的第二电动推杆(12)，且第二电动推杆(12)与电流传感器(9)电连接，所述第二电动推杆(12)的输出端连接有呈L型的放置板(13)，且放置板(13)的顶部水平面与输送槽(3)的底部水平面位于同一平面上。

4.根据权利要求1所述的一种半导体精密测试设备，其特征在于，所述阻挡机构包括固定连接在底座(1)外侧壁上的第三电动推杆(14)，所述第三电动推杆(14)的输出端连接有阻挡板(15)，所述阻挡板(15)的左侧面与出料槽(4)槽口右侧壁位于同一平面上。

5.根据权利要求1所述的一种半导体精密测试设备，其特征在于，所述伸缩机构包括固定连接在L型板(5)顶部的第四电动推杆(16)，所述第四电动推杆(16)的输出端贯穿L型板(5)并与安装板(6)固定连接。

6.根据权利要求1所述的一种半导体精密测试设备，其特征在于，所述底座(1)上开设有运输槽(17)，且运输槽(17)与输送槽(3)连通设置，所述运输槽(17)内转动连接有两根传动轴，且传动轴上固定套接有传动轮(18)，两个所述传动轮(18)通过同一个输送带(19)连接，所述底座(1)外侧壁上固定连接有转动电机(20)，且转动电机(20)的输出端与其中一个传动轴固定连接。