[发明专利]非挥发性存储器装置的制造方法在审

专利信息
申请号: 202011580103.1 申请日: 2020-12-28
公开(公告)号: CN114613776A 公开(公告)日: 2022-06-10
发明(设计)人: 吴建贤;林俊宏;蔡高财;蔡耀庭 申请(专利权)人: 华邦电子股份有限公司
主分类号: H01L27/11521 分类号: H01L27/11521;H01L21/28
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 王天尧;汤在彦
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 发明提供了一种非挥发性存储器装置的制造方法。此方法包括形成沟槽穿过牺牲层且延伸至基板中,填入第一绝缘材料于沟槽中,以及通过注入工艺将掺质注入于第一绝缘材料中。之后,部分地移除第一绝缘材料,以形成第一凹口于牺牲层之间。第一凹口的最低点低于基板的顶表面。此方法包括填入第二绝缘材料于第一凹口中,以及移除牺牲层,以形成第二凹口相邻于第二绝缘材料。此方法包括形成第一多晶硅层于第二凹口中,以及依序形成介电层及第二多晶硅层于第一多晶硅层上。
搜索关键词: 挥发性 存储器 装置 制造 方法
【主权项】:
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